膜厚儀分為手持式膜厚儀和臺式膜厚儀兩種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線(xiàn)儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。
臺式的熒光X射線(xiàn)膜厚儀,是通過(guò)一次X射線(xiàn)穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱(chēng)為二次熒光,,在通過(guò)計算二次熒光的能量來(lái)計算厚度值。
保障膜厚儀測量顯示值準確性必要懂得以下小技巧
基體金屬特性
表面清潔度
測量前,應表面上的任何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
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